表面元素分析 材料檢測(cè)中心
概述
對(duì)于樣品表面的一些化學(xué)信息較為關(guān)注時(shí)，會(huì)采用表面分析技術(shù)，目前表面分析涉及到的儀器有掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)，X射線光電子能譜儀(XPS)，俄歇電子能譜儀(AES)等。掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)可以對(duì)樣品表面形貌觀察，表面元素分析，截面形貌觀察，截面元素分析等，分析深度一般為微米(10-6m)級(jí)別。X射線光電子能譜儀(XPS)和俄歇電子能譜儀(AES)可對(duì)樣品進(jìn)行表面元素分析，表面縱向元素分析，表面元素價(jià)態(tài)分辨，分析深度通常為納米(10-9m)級(jí)別。
同位素分析測(cè)試儀器
加速質(zhì)譜儀13C、15N、18O、D氚
穩(wěn)定同位素質(zhì)譜儀6LI、10B同位素
電感耦合等離子質(zhì)譜儀
放射性元素檢測(cè)
項(xiàng)目類(lèi)別元素
天然放射性核素限量鐳-226，釷-232，鉀-40，鈾-238
γ輻射劑量率
總輻射量
水質(zhì)放射性
總α，總β
檢測(cè)儀器
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES） 電感耦合等離子體質(zhì)譜ICP-MS
波長(zhǎng)型X射線熒光光譜儀（XRF） 能量散射型X射線熒光光譜儀（EDX）
有機(jī)元素分析儀 掃描電子顯微鏡X射線能譜儀(SEMEDS)
紫外/可見(jiàn)光分光光度計(jì)（UV） 原子吸收分光光度計(jì)（AAS）
原子發(fā)射分光光度計(jì)（AES） 離子色譜
直讀光譜儀 CS分析儀
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17418.7-2010 地球化學(xué)樣品中貴金屬分析方法 第7部分：鉑族元素量的測(cè)定
YS/T 372.1-2006 貴金屬合金元素分析方法 銀量的測(cè)定
YS/T 372.2-2006 貴金屬合金元素分析方法 鉑量的測(cè)定
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